重磅通知 | 納米壓痕測(cè)試儀Hit 300新品上市
點(diǎn)擊次數(shù)：2206次 更新時(shí)間：2021-11-12
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納米壓痕測(cè)試儀Hit 300新品上市
安東帕新品納米壓痕測(cè)試儀Hit 300已正式上市！是世界上現(xiàn)今推出的一款高性價(jià)比且應(yīng)用范圍極廣的納米壓痕測(cè)試儀。Hit 300不僅適用于工業(yè)生產(chǎn)體系中各環(huán)節(jié)快速且全面的材料表征及品控監(jiān)測(cè)，更為科研人員對(duì)材料的研發(fā)提供極大的助力。邀請(qǐng)用戶加入本次研討會(huì)，您將發(fā)現(xiàn)簡化直觀的納米壓痕操作界面以及便于使用的高性能儀器硬件，并還能了解Hit 300的典型應(yīng)用。總的來說，Hit 300非常適合于小型大學(xué)、企業(yè)、技術(shù)學(xué)校等，但其功能也能滿足儀器壓痕測(cè)試領(lǐng)域的專家。
Hit 300–簡單與高性能的完MEI融合：
簡化的用戶界面
每小時(shí)進(jìn)行600次測(cè)量
主動(dòng)減振
*的激光瞄準(zhǔn)系統(tǒng)
如有需求，隨時(shí)歡迎各界朋友來電垂詢！
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